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1 time-of-flight secondary ion mass spectroscopy
Semiconductors: TOF-SIMSУниверсальный русско-английский словарь > time-of-flight secondary ion mass spectroscopy
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2 time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy
Makarov: TOF-SIMSУниверсальный русско-английский словарь > time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy
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3 время-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов
1) Semiconductors: time-of-flight secondary ion mass spectroscopy2) Makarov: time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy( TOF-SIMS)Универсальный русско-английский словарь > время-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов
См. также в других словарях:
Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… … Wikipedia
Electron Beam Ion Source — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Electron Beam Ion Trap — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT) bzw. Elektronenstrahl Ionenfalle ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Mass spectrometry — (MS) is an analytical technique that measures the mass to charge ratio of charged particles.[1] It is used for determining masses of particles, for determining the elemental composition of a sample or molecule, and for elucidating the chemical… … Wikipedia
spectroscopy — spectroscopist /spek tros keuh pist/, n. /spek tros keuh pee, spek treuh skoh pee/, n. the science that deals with the use of the spectroscope and with spectrum analysis. [1865 70; SPECTRO + SCOPY] * * * Branch of analysis devoted to identifying… … Universalium
mass spectrometry — or mass spectroscopy Analytic technique by which chemical substances are identified by sorting gaseous ions by mass using electric and magnetic fields. A mass spectrometer uses electrical means to detect the sorted ions, while a mass spectrograph … Universalium
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia
Plasma desorption mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Plasma desorption mass spectrometry caption =Schematic representation of a plasama desorption time of flight mass spectrometer. acronym = PDMS classification =Mass spectrometry analytes = Organic molecules… … Wikipedia
EBIS — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
EBIT-Quelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahl-Ionenfalle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia